製造プロセスからの高解像度データを保存 (SQLServer2008 を利用) して視覚化する方法を探しています。
これらのデータは、木材ストリップの表面に関連しています。詳細には、プロセスパラメータと木材ストリップの表面欠陥に関連するデータを高頻度で収集しました (250 のプロセスパラメータを各木材ストリップで 3500 回測定)。
私が望むのは、次のようなクエリに回答することです: - 数千の木材ストリップを含む 1 つの生産期間全体にわたって、特定の木材地域内で利用可能なすべての HR データを取得します。OR BETTER - 非常に大量の加工された木材ストリップを含む生産期間の木材ストリップの特定の領域 (X、Y 座標で定義) 内のすべての高解像度データを取得します。
私はDWソリューションの可能性を知っていますが、古典的なDWがこの種の問題に対処するのに役立つかどうか、またはその上で何らかの空間的仮定、つまり各測定のX座標を利用するのに役立つかどうかはわかりません。
ありがとう、
ンコ