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私が勤務しているラボ大学では、3D オブジェクトをスキャンするためのレーザー スキャナーを購入しようとしています。最初からずっと、実際にスキャンされた表面から実際の RAW 法線をキャプチャできるスキャナーを探してきました。ほとんどのスキャナーはポイントのみをキャプチャし、ソフトウェアは補間しておおよそのサーフェスの法線を見つけているようです。

生の法線をキャプチャするようなことが実際にあるかどうか知っている人はいますか? これを行うことができ、ポイントデータから法線を補間しないスキャナーはありますか?

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3D オブジェクトを構成するマテリアルの双方向反射率分布関数が既にわかっている場合は、角度反射計を使用して、ある点で測定された BRDF を比較できる可能性があります。次に、仮想 BRDF を実際の測定値と比較することにより、その時点で計算された法線を個別に最適化できます。

確かに、これはかなり計算集約的なタスクになります。ただし、このプロセスをごくまれにしか実行しない場合は、実現可能かもしれません。

詳細については、Radianceで有名なGreg Ward (Larson)またはNVIDIAのPeter Shirleyに相談することをお勧めします。

于 2008-11-14T21:27:18.447 に答える
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これは、構造化ライトを使用してグラデーションから法線を再構築する記事の例です。 2D エッジ グラデーションからのシェイプ

探していた正確な記事は見つかりませんでしたが、これは同じ原則に基づいているようです。オブジェクト上で変形された後、ストライプの角度と幅から法線を再構築できます。

于 2011-05-09T09:46:16.090 に答える
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非常にありそうもない。レーザー スキャンは、範囲を使用して行われます。あなたが望むのは、2 つのまったく異なる手法を組み合わせることです。法線は、適切に制御されたライティングなどを使用してより高い精度で評価できますが、非常に異なる種類のセットアップが必要です。サンプリングの問題も考慮してください。位置データよりも解像度が高い法線は何の役に立つでしょうか?

于 2008-11-11T07:15:46.770 に答える
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生の法線のキャプチャは、ほとんどの場合、フォトメトリック ステレオを使用して行われます。これにはほとんどの場合、基礎となる反射率にいくつかの仮定を置く必要がありますが、法線が多少不正確であっても、それらを別のデータ ソースと組み合わせるとうまくいくことがよくあります。

点群 (たとえば、レーザー スキャンから) を表面法線と結合するための非常に優れたコード: http://www.cs.princeton.edu/gfx/pubs/Nehab_2005_ECP/

于 2011-01-17T04:20:16.280 に答える
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構造化ライトとカメラのセットアップで可能です。
法線は、投影された線と画像上の位置の間の角度から得られます。他のポスターが指摘しているように、ポイントレーザースキャナーからはできません。

于 2008-11-14T21:48:36.093 に答える