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SystemVerilog プロジェクトを誰かと共同作業しています。ただし、私は Synopsys VCS SystemVerilog シミュレーターを使用することに慣れており、彼は Cadence INCISIVE irun を使用することに慣れています。

1 つのテストベンチ モジュールは、トップ デザイン モジュールへのテスト入力パターンを生成するために乱数を使用します。したがって、乱数を生成するためのクラスを設計しました。

class RandData;
    rand logic [3:0] randIn;
    function new(int seed);
        this.srandom(seed);
    endfunction
endclass

シードを使用してクラス RandData をインスタンス化し、シミュレーションで乱数の固定シーケンスを取得できます。ただし、2 つのシミュレータで同じシードを使用しても、VCS で得られる固定乱数系列と irun で得られる固定乱数系列は異なります。

残念ながら、トップ デザイン モジュールのゴールデン出力パターンは、テスト入力パターンに依存します。したがって、ゴールデン出力パターンがVCSによって生成された入力パターンで生成された場合、ゴールデン出力パターンはirunによってシミュレートされたトップ デザイン出力と一致しませ

したがって、VCS と irun シミュレーターで乱数の重複シーケンスを生成するにはどうすればよいですか?

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