過去にも同様の質問がありましたが、どの回答にも満足できず、私の要求に一致するものもありませんでした。問題は、質問が曖昧に提起されたことにあると思います。もっとうまくやろうと思います。
2 つのコンポーネントで構成されるプロセスを記述するデータがあるとします。信号成分と背景成分です。データは x、y、および (x,y) データ ポイントがシグナルかバックグラウンドかを示すラベルです。データの 2D ヒストグラム (おそらく ggplot2 でプロットされたもの) は、平坦な傾斜面またはそれに類似したもの (これは背景成分) のように見えます。 2Dガウスまたはそのようなもの。ここで私がやりたいことは次のとおりです。データからバックグラウンド成分を差し引いて、信号成分だけを確認したいのです。しかし、データにバンプがあることは明らかではないかもしれません。バックグラウンド コンポーネントに比べてバンプが非常に小さい可能性があります。だから私がやりたいのは、バンプを検索できるように背景を差し引くことです. そして私' 2 つの KDE の違いに対して、パラメーターの不運な選択によってバンプを作成しないでください。データをビン化し、ラベル (シグナル/バックグラウンド) で階層化し、1 つの 2D ヒストグラムを他の 2D ヒストグラムから減算したいだけです。そして、それを ggplot2 を使用してプロットしたいと思います。Hexbin プロット、タイル プロット、2D 等高線プロット、または ggplot2 を使用した poly プロットがうまく機能します。これを行う方法についてのアイデアはありますか？
他の同様の質問には、2 つの KDE を作成してそれらを差し引くことを提案する回答がありますが、この余分な複雑さのレイヤーは必要ありません。生の2Dビンカウントの違いが欲しいだけです。確かにこれを行う簡単な方法はありますか？